三线阵测绘相机光学系统的杂光分析与计算

• 作者: 冯晟杰 王红 田铁印
• 来源期刊: 中国光学
• 学科: 航空航天
• 关键词: 三线阵测绘相机 光学设计 成像质量 杂光分析
• 年，卷（期）: 2012,（6）
• 所属期刊栏目: 空间光学
• 页码范围: 583-589
• 页数: 7页
• 分类号: V248.3
• 字数: 1951字
• 语种: 中文

摘要

针对光学系统的杂光导致三线阵测绘相机成像质量下降的问题，根据光学系统的设计结果，对相机入口处的杂光能量、像面杂光辐照度、杂光系数等进行了分析与计算，提出了合理的杂光抑制措施。利用ThermalDesktop软件和Light—Tools软件，对三线阵立体测绘相机各光学系统进行分析与模拟计算，得到其杂光系数均小于5％。最后进行了光学实验，并利用面源法测试了杂光系数。检测结果验证了杂光分析与研究方法的正确性以及杂光抑制措施的可行性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王红	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所光学系统先进制造技术中国科学院重点实验室	125	1755	25.0	35.0
2	田铁印	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所光学系统先进制造技术中国科学院重点实验室	15	192	8.0	13.0
3	冯晟杰	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所光学系统先进制造技术中国科学院重点实验室	2	10	1.0	2.0