基于边缘效应的绕组损耗估算

• 作者: 姜劲（校） 高适（编辑）
• 来源期刊: 磁性元件与电源
• 学科: 工学
• 关键词: 边缘效应 铜箔绕组 高频交流损耗 二维(2-D)分析法
• 年，卷（期）: 2012,（1）
• 页码范围: 128-134
• 页数: 7页
• 分类号: TN86

摘要

文章提出了-种简单的方法，给出了包括二维（2-D）边缘效应在内的绕组交流（ac）损耗的估算方法。文章首先叙述用-维（1-D）分析法估算线绕绕组的损耗。然而，因为二维（2-D）边缘效应引起的附加绕组损耗非常明显，但又不能用1-D方法分析估算，故本文在1-D分析方法的基础上建立起了-组用1—D分析结果作校正系数的2-D边缘效应估算法。文章还采用有限元分析（FEA）法验证了所估算的结果。