烧结温度对CaBi2Nb2O9超高温压电陶瓷结构及性能影响

• 作者: 周瑜 屈绍波 王斌科 田晓霞
• 来源期刊: 空军工程大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 压电陶瓷 微结构 介电性能
• 年，卷（期）: 2012,（5）
• 所属期刊栏目: 基础理论研究
• 页码范围: 85-89
• 页数: 5页
• 分类号: TN384
• 字数: 3413字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-3516.2012.05.018

摘要

采用传统固相合成法制备了铋层状结构CaBi2Nb2O9压电陶瓷,研究了烧结温度对样品相结构、微观形貌、密度和介电、铁电性能的影响.采用X射线衍射衍射仪、电子扫描电镜、拉曼光谱、介电温谱以及电滞回线对制备陶瓷样品进行表征分析和性能测试.结果表明:所有陶瓷样品的相组成均为纯铋层状结构,晶粒呈棒状,各向异性明显,随着烧结温度的升高,晶粒逐渐长大,陶瓷密度先变大后变小.固相法制备的CaBi2Nb2O9压电陶瓷的最佳烧结温度为1150℃,介电温谱显示CaBi2Nb2O9陶瓷的居里温度为943℃.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	屈绍波	空军工程大学理学院	120	663	12.0	17.0
2	王斌科	空军工程大学理学院	40	155	6.0	10.0
3	田晓霞	空军工程大学理学院	27	57	5.0	6.0
4	周瑜	空军工程大学理学院	4	7	2.0	2.0