ALT在电子产品中的应用分析

• 作者: 李军 王玉梅
• 来源期刊: 环境技术
• 学科: 工学
• 关键词: 电子产品 可靠性 加速寿命试验
• 年，卷（期）: 2012,（5）
• 所属期刊栏目: 环境适应性和可靠性
• 页码范围: 19-21
• 分类号: TB114.3
• 字数: 2834字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-7204.2012.05.004

摘要

加速寿命试验是预测产品可靠性的重要方法,在实践中得以广泛应用.本文简要分析加速寿命试验的原理,并探讨它在电子产品中的应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李军	中国工程物理研究院电子工程研究所	57	233	9.0	14.0
2	王玉梅	中国工程物理研究院电子工程研究所	3	2	1.0	1.0