200N·m·s控制力矩陀螺用圆柱型导电环寿命试验

• 作者: 李刚 武登云 高莉 魏大忠
• 来源期刊: 空间控制技术与应用
• 学科: 航空航天
• 关键词: 控制力矩陀螺 导电环 寿命试验
• 年，卷（期）: 2012,（2）
• 所属期刊栏目: 技术交流
• 页码范围: 49-52
• 分类号: V414.3
• 字数: 2719字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-1579.2012.02.010

摘要

导电环用于200N·m·s控制力矩陀螺高速转子电信号的传输,其使用寿命直接决定了200N·m·s控制力矩陀螺整机寿命,因此需要对200N·m·s控制力矩陀螺用导电环进行加速寿命试验.对试验目的、试验对象、加速因子、试验环境、试验系统组成、失效判据进行了详细描述,对导电环寿命试验期间的电噪声、摩擦力矩、绝缘性能等测试结果进行的分析表明,在进行了4×106转的寿命试验后,导电环的各项性能指标仍能够满足200N·m·s控制力矩陀螺的使用需求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	魏大忠		9	55	3.0	7.0
2	武登云		21	76	5.0	8.0
3	李刚		9	51	3.0	7.0
4	高莉		2	2	1.0	1.0