基于γ谱形差异的定量分析对含铀矿体直接铀定量方法

• 作者: 吴永鹏 梁永顺 汤彬 王哲 程建平
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 含铀矿体 NaI(T1)γ谱仪 直接铀定量 谱形差异定量分析
• 年，卷（期）: 2012,（2）
• 页码范围: 150-155
• 分类号: TL81
• 字数: 3646字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2012.02.006

摘要

对含铀矿体,γ能谱法直接铀定量可采用HPGe谱仪测量234m Pa之1.001 MeV弱特征峰来实现.然而,闪烁体谱仪不能获得含铀矿体精细γ谱,其仪器谱也反映不出与铀含量直接相关的这一特征峰.因此,需要研究一种有效提取该弱信息以直接获得铀含量的方法.采用CR-320型便携式Na1(T1)谱仪对系列含铀硬岩体模型进行测量,定量分析各矿体模型中心点位置γ仪器谱中该特征能量窗谱形的差异,结合线性回归相对分析法进行直接铀定量.分别对234mPa之1.001 MeV和发射强度更低的0.743 MeV特征能量,都获得了良好效果,满足铀矿勘探对硬岩型铀矿含铀500 ppm以上误差不超过10.0％的要求,对主要核素定量的最大误差为9.9％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	程建平	清华大学工程物理系	107	664	13.0	20.0