分形分析1/f噪声性能

• 作者: 吴洁 唐龙泳 陈晓娟 隋吉生
• 来源期刊: 河南科技大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 低频噪声 1/f噪声 分形分析
• 年，卷（期）: 2012,（1）
• 所属期刊栏目: 电工电信、自动化与计算机
• 页码范围: 28-31
• 分类号: TN45
• 字数: 1922字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-6871.2012.01.008

摘要

电子器件的低频噪声通常由闪烁(1/f噪声)噪声、g-r噪声和爆裂噪声3种成分构成.这些噪声通常与晶体管表面状态或内部缺陷有关,其中,1/f噪声已成为对器件的质量评估及可靠性预测的重要指标.提出分形分析方法,对1/f噪声性能进行分析.仿真实验结果验证了该方法的可行性,为今后用分形理论研究器件低频噪声提供了理论依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈晓娟	东北电力大学信息工程学院	47	303	9.0	14.0
2	吴洁	东北电力大学信息工程学院	7	95	3.0	7.0
3	唐龙泳	东北电力大学信息工程学院	2	10	1.0	2.0
4	隋吉生	东北电力大学信息工程学院	1	10	1.0	1.0