Au线改Cu线的新发展及可靠性研究

• 作者: 崔晓英
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 引线键合 金属间化合物 镍基焊盘
• 年，卷（期）: 2012,（3）
• 所属期刊栏目: 可靠性物理与实效分析技术
• 页码范围: 29-34
• 分类号: TN305.96
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2012.03.007

摘要

Au线作为内引线一直占据着键合的主导地位,而由于Cu线具有优良的电性能和价格优势,随着键合技术的发展,以Cu丝代替Au丝作为键合用内引线已经成为现在的主要趋势.介绍了Cu线相对于Au线的优势、存在的可靠性问题,并对Cu引线键合新的发展趋势、如何进行可靠性验证等问题进行了研究.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	崔晓英		1	6	1.0	1.0