X射线衍射仪的角度溯源

• 作者: 任玲玲 崔建军
• 来源期刊: 计量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 计量学 X射线衍射仪 校准 不确定度 溯源
• 年，卷（期）: 2012,（3）
• 所属期刊栏目: 检定与校准
• 页码范围: 48-51
• 分类号: TB9
• 字数: 2561字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0771.2012.3.015

摘要

采用溯源至SI国际单位的激光干涉仪和自准直仪分别对X射线衍射仪的θ角、2θ角进行校准,并且对角度引入的不确定度进行了分析.结果显示角度引入的扩展不确定度为0.02nm(k=2).

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	任玲玲		35	122	6.0	9.0
2	崔建军		33	122	6.0	8.0