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摘要:
本文搭建了一套大气压等离子体薄膜沉积系统,其装置采用喷枪方式,结合运动机构控制喷枪按特定轨迹移动镀膜。四乙氧基硅烷(TEOS)作为硅的先驱体,氮气为先驱体载气和等离子体放电气体,基底温度50℃~300℃,进行了大气压等离子体化学气相沉积氧化硅薄膜的研究。运用红外光谱(FTIR)、光学椭偏仪,扫描电镜(SEM)和纳米压痕仪对沉积的薄膜进行了表征。研究表明,薄膜中富含Si—O—Si键且有少量S—OH键;较高基底温度有利于在硅基底上得到一层平整致密的薄膜;基底温度300℃时薄膜硬度达到4.8GPa,略低于采用PECVD方法沉积的氧化硅薄膜。
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文献信息
篇名 大气压非平衡等离子体沉积氧化硅薄膜
来源期刊 材料科学与工程学报 学科 工学
关键词 氧化硅薄膜 非平衡等离子体枪 大气压 氮气 四乙氧基硅烷 基底温度
年,卷(期) 2012,(2) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 241-244,266
页数 分类号 TB43|O484.4
字数 语种 中文
DOI
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序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 林江 浙江大学无机非金属材料研究所 16 245 9.0 15.0
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材料科学与工程学报
双月刊
1673-2812
33-1307/T
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浙江杭州浙大路38号浙江大学材料系
1983
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