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大气压非平衡等离子体沉积氧化硅薄膜
大气压非平衡等离子体沉积氧化硅薄膜
作者:
张溪文
林江
韩高荣
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
氧化硅薄膜
非平衡等离子体枪
大气压
氮气
四乙氧基硅烷
基底温度
摘要:
本文搭建了一套大气压等离子体薄膜沉积系统,其装置采用喷枪方式,结合运动机构控制喷枪按特定轨迹移动镀膜。四乙氧基硅烷(TEOS)作为硅的先驱体,氮气为先驱体载气和等离子体放电气体,基底温度50℃~300℃,进行了大气压等离子体化学气相沉积氧化硅薄膜的研究。运用红外光谱(FTIR)、光学椭偏仪,扫描电镜(SEM)和纳米压痕仪对沉积的薄膜进行了表征。研究表明,薄膜中富含Si—O—Si键且有少量S—OH键;较高基底温度有利于在硅基底上得到一层平整致密的薄膜;基底温度300℃时薄膜硬度达到4.8GPa,略低于采用PECVD方法沉积的氧化硅薄膜。
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篇名
大气压非平衡等离子体沉积氧化硅薄膜
来源期刊
材料科学与工程学报
学科
工学
关键词
氧化硅薄膜
非平衡等离子体枪
大气压
氮气
四乙氧基硅烷
基底温度
年,卷(期)
2012,(2)
所属期刊栏目
研究论文
研究方向
页码范围
241-244,266
页数
分类号
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字数
语种
中文
DOI
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姓名
单位
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林江
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材料科学与工程学报
主办单位:
浙江大学
出版周期:
双月刊
ISSN:
1673-2812
CN:
33-1307/T
开本:
大16开
出版地:
浙江杭州浙大路38号浙江大学材料系
邮发代号:
创刊时间:
1983
语种:
chi
出版文献量(篇)
4378
总下载数(次)
9
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