X射线衍射全谱拟合定量分析方法研究

• 作者: 冯志海 王晓叶 郑斌
• 来源期刊: 宇航材料工艺
• 学科: 工学
• 关键词: X射线衍射 全谱拟合法 物相定量
• 年，卷（期）: 2012,（2）
• 所属期刊栏目: 测试分析
• 页码范围: 108-110
• 分类号: TM743
• 字数: 2033字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-2330.2012.02.027

摘要

利用X射线衍射仪对不同配比的Si和TiO2样品进行分析,通过三种定量分析方法(峰高法、积分强度法、全谱结构拟合法)进行计算,并进行误差分析.结果表明:三种定量分析方法中,全谱结构拟合法最优,相对误差为±2％(n=3),误差最小.X射线衍射全谱拟合法是一种精确,快速的定量方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	冯志海	航天材料及工艺研究所先进功能复合材料技术重点实验室	92	794	16.0	24.0
2	王晓叶	航天材料及工艺研究所先进功能复合材料技术重点实验室	11	66	4.0	8.0
3	郑斌	航天材料及工艺研究所先进功能复合材料技术重点实验室	6	54	4.0	6.0