适用于δ相关解扩的扩频码检验方法

• 作者: 陈志清 龙德浩
• 来源期刊: 电讯技术
• 学科: 工学
• 关键词: 扩频码检验 Welch内积定理 实用Welch内积定理－扩频码检验 δ-相关解扩
• 年，卷（期）: 2012,（10）
• 页码范围: 1577-1581
• 分类号: TN929.53
• 字数: 4017字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-893x.2012.10.004

摘要

基于Welch内积定理(IC定理),导出了归一化零时延互相关函数或零时延内积的绝对最大值δ0的三条基本特性,从而把Welch内积定理演变成了适用于计算量较小、解扩增益较高、有峰值、无旁瓣的δ相关解扩的扩频码检验方法,即“实用Welch内积定理-扩频码检验方法”,为作者拟定的“δ/θ型基带相关检测/解扩方案”(电讯技术,2012,52(9):1438-1442)的工程应用奠定了扩频码检验与设计的理论基础.这两个检验方法与现存经典(含Welch)扩频码检验方法在参数、结构、判决方式等方面都不相同.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	龙德浩		7	14	2.0	3.0
2	陈志清		6	14	2.0	3.0