针对扫描阻塞结构的测试数据压缩方案

• 作者: 刘铁桥 杨致远 王伟征 蔡烁
• 来源期刊: 计算机应用研究
• 关键词: 扫描阻塞结构 确定位 测试片段 泊松分布 编码压缩
• 年，卷（期）: 2012,（4）
• 所属期刊栏目: 系统应用开发
• 页码范围: 1378-1380
• 分类号: TP331
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3695.2012.04.049

摘要

分析了集成电路测试面临的测试数据量大、测试应用时间长等问题,对常用的测试压缩方法进行了介绍,并在扫描阻塞测试结构基础上,提出了对数据进行部分编码压缩的方案.在附加硬件开销很小的情况下,进一步压缩了测试数据.理论分析和实验结果都表明了本压缩方案的可行性和有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡烁	长沙理工大学计算机与通信工程学院	18	26	3.0	4.0
5	刘铁桥	湖南大学信息科学与工程学院	8	22	3.0	4.0
6	王伟征	湖南大学信息科学与工程学院	4	7	2.0	2.0
7	杨致远	长沙理工大学计算机与通信工程学院	2	4	1.0	2.0