CM OS 在辐射分布与照射量率直接探测中的应用

• 作者: 刘玉芳 周军晓 张软玉 王明远 王芳 马春旺
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: CMOS γ射线和X射线探测 辐射分布 照射量率
• 年，卷（期）: 2013,（10）
• 页码范围: 1278-1281
• 页数: 4页
• 分类号: TL816
• 字数: 2134字
• 语种: 中文

摘要

为了实现同时探测辐射的分布和照射量率，提出了一种利用CMOS成像测量低能γ射线和X射线的方法。测试系统利用CMOS图像传感器实现辐射成像并根据灰度值计算辐射的照射量率。实验证实，在低剂量、短时间的探测中，辐射对器件的损伤可以忽略。实验结果表明，用CMOS成像可实现辐射的二维分布和照射量率的同时测量。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘玉芳	河南师范大学物理与电子工程学院	156	576	11.0	17.0
2	王芳	河南师范大学物理与电子工程学院	77	256	8.0	13.0
3	马春旺	河南师范大学物理与电子工程学院	29	68	4.0	7.0
4	周军晓	河南师范大学物理与电子工程学院	15	20	3.0	4.0
5	王明远	河南师范大学物理与电子工程学院	6	16	3.0	3.0
6	张软玉	河南师范大学物理与电子工程学院	1	6	1.0	1.0