去除吸附氦试验及相关标准分析

• 作者: 刘永敏 李宁博 李飞 王庚林
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 氦质谱检漏 去除吸附氮 拟合模式 美军标分析
• 年，卷（期）: 2013,（6）
• 所属期刊栏目: 专家论坛
• 页码范围: 5-12
• 页数: 8页
• 分类号: TB774
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2013.06.002

摘要

介绍了两种典型的密封样品的去除吸附氮试验,吸附氮漏率的测试是在Inficon公司Pemicka 700H型积累氮质谱粗漏细漏组合检漏仪上进行的,给出了试验数据、拟合模式和结果,进而分析了最新的美国军用标准MIL-STD-750-1/883J氦质谱检漏方法在降低被检件吸附氦漏率方面的不可检测性,并综合分析了这两项标准的其他问题,提出了全面改进的方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王庚林		24	61	4.0	6.0
2	李宁博		10	42	4.0	6.0
3	李飞		10	42	4.0	6.0
4	刘永敏		6	30	3.0	5.0