Mn1.56Co(0.96-x)Ni0.48CuxO4系列薄膜光电性质研究

• 作者: 侯云 周炜 张琰 褚君浩 黄志明
• 来源期刊: 红外与毫米波学报
• 学科: 地球科学
• 关键词: X射线衍射 扫描电镜 特征温度T0 活化能E 椭偏光谱 消光系数k
• 年，卷（期）: 2013,（2）
• 页码范围: 113-117
• 页数: 5页
• 分类号: N0447
• 字数: 4629字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3724/SP.J.1010.2013.00113

摘要

用化学溶液沉积法,以Al2O3为衬底在750℃温度下制备了锰钴镍铜Mn1.56 Co(0.96_x) Ni0.48 CuxO4系列薄膜.制备温度低于传统烧结工艺需要的温度(1100℃).采用X射线衍射(XRD)对所制备材料的结晶性能进行测量.结果表明,在一定范围内随着铜组分的增加,材料的择优取向发生变化,结晶性能提高且保持立方尖晶石单相结构.根据Scherrer方程和XRD数据计算薄膜的晶粒尺寸,Cu含量的增加导致薄膜晶粒尺寸增大.扫描电镜(SEM)图验证了制备的薄膜材料均匀致密,无裂痕.测量材料的变温I-V特性,计算材料在295 K下负温度电阻系数α及其活化能和特征温度,当Cu含量低时材料的α值较大,随着Cu组分的增加,α由-4.12％下降到-3.29％.利用椭偏光谱仪(SE),拟合材料在近紫外-可见-近红外波段的消光系数,并初步指认消光系数峰.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄志明	中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室	43	424	10.0	19.0
2	褚君浩	中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室	103	650	13.0	22.0
3	周炜	中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室	18	115	6.0	10.0
4	侯云	中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室	7	18	3.0	3.0
5	张琰	中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室	1	5	1.0	1.0