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摘要:
Silicon nanocrystals embedded in silicon nitride films were irradiated with Si-ions at 8 MeV in order to modify their optical response. The samples were characterized by means of Rutherford Backscattering Spectrometry, Elastic Recoil Detection Analysis, High-Resolution Transmission Electronic Microscopy and Photoluminescence analysis. It was found a blue-shift in the photoluminescence emission from the as-grown films after they were irradiated with high energetic silicon ions. According to the quantum confinement theory, this fact is related to a decrease in size of the silicon nanocrystals, which means that a higher silicon fluence irradiation is related with a diminishing in silicon nanocrystal size.
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篇名 The Effect of the MeV Si-Ion Irradiation on the Photoluminescence of Silicon Nanocrystals
来源期刊 凝固态物理国际期刊(英文) 学科 物理学
关键词 SILICON NITRIDE SILICON NANOCRYSTALS PHOTOLUMINESCENCE RBS ERDA
年,卷(期) 2013,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 119-124
页数 6页 分类号 O48
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