光电耦合器的长期贮存退化特性分析

• 作者: 李坤兰 杨少华
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 光电耦合器 贮存 退化 失效机理
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 所属期刊栏目: 可靠性与环境试验技术及评价
• 页码范围: 27-30
• 页数: 4页
• 分类号: TN36
• 语种: 中文

摘要

介绍了某光电耦合器在自然条件下的贮存退化特性,长期贮存14年后出现了电流传输比和集电极暗电流等性能参数退化失效.其性能参数退化的原因为内部水汽含量高、胶体开裂.该试验结果对于贮存寿命设计和贮存延寿工程有一定的参考价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨少华		12	49	4.0	6.0
3	李坤兰		4	9	2.0	3.0