光电耦合器的CTR退化机理及其控制对策

• 作者: 徐爱斌 李少平 欧叶芳 郑廷圭
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 光电耦合器:电流传输比 退化现象 退化机理 控制对策
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 所属期刊栏目: 可靠性物理与失效分析
• 页码范围: 22-24
• 页数: 3页
• 分类号: TN36
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2001.02.005

摘要

研究探讨了光电耦合器电流传输比(CTR)的退化现象及其退化机理,提出了控制CTR退化的主要技术途径.X[基金项目]

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李少平		12	27	3.0	3.0
2	徐爱斌		9	40	4.0	6.0
3	欧叶芳		2	4	1.0	2.0
4	郑廷圭		6	32	3.0	5.0