红外焦平面探测器制冷组件可靠性研究进展

• 作者: 恩云飞 杨少华 赖灿雄 路国光 黄云
• 来源期刊: 光学与光电技术
• 学科: 工学
• 关键词: 红外焦平面 可靠性 失效模式 寿命试验
• 年，卷（期）: 2013,（4）
• 所属期刊栏目: 红外技术
• 页码范围: 29-32,59
• 分类号: TN215
• 语种: 中文

摘要

红外焦平面探测器制冷组件的可靠性研究对推进组件工程化应用具有重要意义.介绍了国外在组件的可靠性模型、失效模式、加速应力以及可靠性试验等方面的研究进展,并对国内的组件可靠性研究状况作了简要分析,总结了对组件可靠性研究的总体思路,为国内红外焦平面探测器制冷组件的可靠性研究提供参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨少华	工业和信息化部电子第五研究所电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室	12	49	4.0	6.0
2	恩云飞	工业和信息化部电子第五研究所电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室	22	60	4.0	6.0
3	赖灿雄	工业和信息化部电子第五研究所电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室	1	6	1.0	1.0
4	路国光	工业和信息化部电子第五研究所电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室	3	14	2.0	3.0