片上信号完整性研究与测试

• 作者: 李研 苏琦 郭昕 马艳
• 来源期刊: 高性能计算技术
• 学科: 工学
• 关键词: 信号完整性 测试电路
• 年，卷（期）: 2013,（5）
• 所属期刊栏目: 高性能计算技术
• 页码范围: 43-46
• 页数: 4页
• 分类号: TP331
• 语种: 中文

摘要

本文对片上信号完整性进行了分析,并提出了一种有效的信号完整性测试电路.该电路不需要特殊的测试仪器和测试流程,可以完全融合于芯片功能测试流程中.通过在测试芯片中流片验证,该电路工作良好.对该电路的测试结果显示,某代工工艺下,耦合电容会使信号延迟增加48％.对比发现,参考时序分析流程对信号完整性分析结果与流片数据有较大差异.