一种低成本UHF RFID芯片集中CP测试方法

• 作者: 袁远东 裴万里 郝先人 陈燕宁
• 来源期刊: 宇航计测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路 低成本 芯片 测量
• 年，卷（期）: 2013,（6）
• 页码范围: 75-79
• 页数: 5页
• 分类号: TN407
• 字数: 3041字
• 语种: 中文

摘要

随着电子产品日新月异的发展，在产品品质提高的同时，产品价格的下降也越来越被消费者重视。为了降低电子产品的价格，首先需要降低核心芯片的生产成本。 UHF RFID芯片的设计成本很低，因此测试成本在芯片生产成本中占有很大比重。为此，提出了一种新颖的集中CP测试方案来降低芯片CP测试的成本。与最基本的8芯片同测方案相比，不仅芯片面积变小，单组集中CP测试方案可对测试时间至少优化68%。如果单个测试单元的芯片个数改变，或者同时采用多组同测，还可以进一步降低测试成本，增强产品的市场竞争力。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	裴万里		1	1	1.0	1.0
2	郝先人		1	1	1.0	1.0
3	袁远东		1	1	1.0	1.0
4	陈燕宁		1	1	1.0	1.0