内层半固化片选择对PCB耐CAF性能的影响

• 作者: 胡梦海 陈蓓
• 来源期刊: 印制电路信息
• 学科: 工学
• 关键词: 半固化片 阳极导电丝 灯芯 玻纤裂纹 电化学迁移 平均失效时间 可靠性
• 年，卷（期）: 2013,（5）
• 页码范围: 31-35
• 分类号: TN41
• 字数: 2614字
• 语种: 中文

摘要

阳极导电丝(CAF)是PCB业内近十年来较为热门的可靠性问题之一,当PCBA工作在高温高湿的环境下时,有可能产生沿玻璃纤维生长的阳极导电丝CAF.文章主要研究了PCB设计中的关键因素叠层设计对耐CAF性能的影响,通过分析不同半固化片的异同点,对比不同半固化片在玻纤裂纹和CAF失效寿命方面的差异.通过不同半固化片的CAF寿命数据,推算不同叠层设计的CAF寿命,为有较高CAF可靠性要求的产品研究提供了理论依据和试验基础.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈蓓		49	66	4.0	5.0
2	胡梦海		9	10	2.0	2.0