基于双MCU可故障检测的安全光幕设计

• 作者: 唐露新 张智 林俊彬
• 来源期刊: 单片机与嵌入式系统应用
• 学科: 工学
• 关键词: 安全光幕 双MCU 红外发射 红外接收 故障检测
• 年，卷（期）: 2013,（4）
• 所属期刊栏目: 应用天地
• 页码范围: 72-75
• 页数: 4页
• 分类号: TN791
• 字数: 4050字
• 语种: 中文

摘要

介绍一种基于双MCU的安全光幕软硬件设计方案,实现了传统安全光幕检测给定区域有无物体的功能,还加入了对关键模块故障检测的功能,并采用双路检测与安全输出机制,加强光幕工作的可靠性.该系统主要由红外发射模块、红外接收模块、安全输出模块组成,整个系统在ICCAVR及AVRStudio环境下设计,采用Atmel的ATmega32型AVR芯片设计实现,系统响应时间快,可靠性高,满足高精度、高速度、高可靠性的设计要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	唐露新	广东工业大学信息工程学院	77	376	11.0	14.0
2	张智	广东工业大学信息工程学院	10	55	4.0	7.0
3	林俊彬	广东工业大学信息工程学院	3	5	1.0	2.0