基于 STM32的线阵 CCD 尺寸测量系统

• 作者: 秦付军 邓成中 黄惟公
• 来源期刊: 西华大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 精密尺寸测量 线阵CCD 细分算法 STM32 AD9826
• 年，卷（期）: 2013,（5）
• 页码范围: 64-66,73
• 页数: 4页
• 分类号: TN386.5
• 字数: 2548字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-159X.2013.05.016

摘要

为提高线阵CCD的测量精度，提出了一种以STM32为核心控制器的尺寸测量系统。采用STM32编程实现对线阵CCD的驱动，利用视频专用AD9826芯片中的相关采样等特殊功能实现对CCD输出信号的噪声处理和模数转换。文章详细阐述了系统中CCD驱动、抑制噪声的相关采样、亚像素定位的细分算法等关键技术的实现原理。该设计既简化了此类系统的硬件设计又便于调试控制参数、实现复杂的细分运算。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邓成中	西华大学机械工程与自动化学院	25	108	6.0	9.0
2	秦付军	西华大学机械工程与自动化学院	29	149	6.0	10.0
3	黄惟公	西华大学机械工程与自动化学院	39	372	10.0	18.0