高强度短寿命核素对其它峰计数率和半衰期影响的研究

• 作者: 张信威 秦建国 蒋励 赖财锋
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 短寿命核素 死时间 活时间校准模式 零死时间校准模式 计数率 半衰期
• 年，卷（期）: 2013,（4）
• 页码范围: 442-447
• 页数: 6页
• 分类号: TL822
• 字数: 3979字
• 语种: 中文

摘要

利用HPGe探测器及DSPECPlus谱仪的活时间校准模式(LTC)和零死时间校准模式(ZDT),对含有高强度短寿命核素的混合样品作了测量.结果表明:在计数率急剧变化的情况下,LTC方法测得的峰计数经修正以后仍然存在计数丢失；与ZDT模式的数据相比,初始阶段数据丢失率约2.0％～3.8％.这部分不能正确修正的计数对短寿命核素的半衰期几乎没有影响,但是对半衰期相对较长的核素有一定的影响,实验中,LTC和ZDT两种模式下24Na的半衰期相差了2.56％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蒋励	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	24	34	3.0	4.0
2	秦建国	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	13	30	3.0	5.0
3	赖财锋	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	14	31	3.0	5.0
4	张信威		4	12	2.0	3.0