考虑时间因素的不同基本门故障概率计算

• 作者: 江建慧 肖杰
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 时间因素 输入负载 输入导线 CMOS器件 不同基本门的故障概率
• 年，卷（期）: 2013,（4）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 666-673
• 页数: 8页
• 分类号: TP331
• 字数: 7517字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2013.04.007

摘要

在门级电路的可靠性概率评估方法中,基本门的故障概率p一般人为设定或以常数形式出现.考虑到不同基本门的故障概率具有随时间变化的特性并结合其输入导线,本文构建了考虑输入负载的随时间变化的不同基本门的故障概率模型.理论分析与实验结果表明,基于弱链接模型的双峰对数正态分布更适合用来表示输入导线故障概率的时间分布.用本文方法、美国军用标准MIK-HDBK-217及Monte Carlo方法计算了ISCAS85基准电路的可靠度并进行了比较,还通过了行业标准的检验,结果验证了本文所构建模型的合理性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	江建慧	同济大学软件学院	91	680	14.0	21.0
2	肖杰	同济大学软件学院	22	276	7.0	16.0