结合版图结构信息的基本门电路故障概率估计

• 作者: 江建慧 肖杰
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 缺陷模型 缺陷粒径概率分布 版图结构信息 基本门故障概率 门级电路可靠性评估
• 年，卷（期）: 2012,（2）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 235-240
• 分类号: TP331
• 字数: 5087字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2012.02.005

摘要

在门级电路可靠性估计方法中,基本门的故障概率(卯)一般采用经验值或人为设定.本文结合基本门的版图结构信息,综合考虑了设计尺寸及缺陷特性等因素,分析了不同缺陷模型下的粒径分布数据,给出了缺陷模型粒径概率密度分布函数的参数c的计算算法,并推导出了(卯)的计算模型.理论分析与在ISCAS85及74系列电路上的实验结果表明,缺陷的分段线性插值模型能较准确地描述电路可靠性模型的低层真实缺陷.对ISCAS85基准电路采用本文方法所得到的电路可靠度与采用美国军用标准MIL-HDBK-217方法所得到的计算结果进行了比较,验证了本文所建(卯)模型的合理性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	江建慧	同济大学计算机科学与技术系	91	680	14.0	21.0
2	肖杰	同济大学计算机科学与技术系	22	276	7.0	16.0