抗汞菌株的API20E鉴定及其质粒特性

• 作者: 徐辉 曹德菊* 田忠峰
• 来源期刊: 安徽农业大学学报
• 学科: 地球科学
• 关键词: 抗汞菌株 API20E鉴定 质粒 汞去除
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 页码范围: 120-123
• 分类号: X172
• 语种: 中文

摘要

利用 API20E 细菌鉴定系统对筛选获得的抗汞菌株 PII 进行鉴定,并采用高温-SDS 对所获抗汞菌株PII进行质粒消除,研究其对PII菌株的去汞特性的影响.结果表明,抗汞菌株PII生化谱为2227004,经API20E生化项分析鉴定系统查询,为恶臭假单胞菌(Pseudomonas putida);抗汞菌株PII含有质粒,其质粒片段在4 kb~5 kb左右,利用高温-SDS法质粒消除率达到62.5%.质粒消除试验表明,抗汞菌株PII的汞去除能力与质粒相关.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	田忠峰	安徽农业大学资源与环境学院	2	12	2.0	2.0
2	徐辉	安徽农业大学资源与环境学院	8	49	5.0	7.0
3	曹德菊*	安徽农业大学资源与环境学院	1	5	1.0	1.0