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ESD对微波组件的危害及其防护
ESD对微波组件的危害及其防护
原文服务方：
电子产品可靠性与环境试验
摘要：
在微波组件的生产过程中,静电放电(ESD)是导致产品失效的主要原因之一.介绍了ESD损伤的失效类型,分析了ESD对微波组件造成的危害特点,阐述了在微波组件设计和生产中静电防护的重要性.以及所采取的ESD防护管理方法和ESD防护的具体技术措施.
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文献信息
| 篇名 | ESD对微波组件的危害及其防护 | ||
| 来源期刊 | 电子产品可靠性与环境试验 | 学科 | |
| 关键词 | 静电放电 静电防护 微波组件 | ||
| 年，卷（期） | 2013,（3） | 所属期刊栏目 | 安全与电磁兼容 |
| 研究方向 | 页码范围 | 19-24 | |
| 页数 | 6页 | 分类号 | TN03 |
| 字数 | 语种 | 中文 | |
| DOI | |||
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版权信息
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研究主题发展历程
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静电放电
静电防护
微波组件
研究起点
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位：
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期：
双月刊
ISSN：
1672-5468
CN：
44-1412/TN
开本：
大16开
出版地：
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号：
创刊时间：
1962-01-01
语种：
中文
出版文献量（篇）
2803
总下载数（次）
0
总被引数（次）
9369
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