公差设计对高集成度微波收发组件可靠性的影响

• 作者: 吴小虎 张文超 顾江川 魏守明
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 高集成度微波收发组件 可靠性 公差设计 失效原因 控制措施
• 年，卷（期）: 2018,（6）
• 所属期刊栏目: 可靠性设计与工艺控制
• 页码范围: 36-40
• 页数: 5页
• 分类号: TN83|TN85
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2018.06.006

摘要

微波收发组件作为有源相控阵天线的核心部件,其主要功能包括微波信号的接收、 发射和幅度与相位控制.随着武器装备向小型化、 高集成度化和高可靠方向发展,在保持微波收发组件的性能不变的情况下需进一步地提高其集成度.在高集成度微波收发组件的实现过程中发生了部分失效现象,暴露了一些可靠性问题,制约了武器装备的发展.通过分析高集成度微波收发组件的典型失效案例,论述了公差设计对于产品可靠性的重要影响.根据各种失效原因,提出了相应的控制措施,为提高组件的可靠性提供了一定的指导.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	魏守明		2	0	0.0	0.0
2	顾江川		1	0	0.0	0.0
3	张文超		1	0	0.0	0.0
4	吴小虎		2	0	0.0	0.0