RCS成像测量系统的设计、集成与实现

• 作者: 刘志忠 刘本东 张宇桥 符礼
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 一维成像 二维RCS成像 测量系统 微波暗室
• 年，卷（期）: 2013,（7）
• 所属期刊栏目: 电磁兼容
• 页码范围: 74-77,81
• 页数: 5页
• 分类号: TN958
• 语种: 中文

摘要

该文以RCS成像原理为基础,设计集成了一套微波暗室内的RCS成像测量系统,该系统结构简单、功能完善,具备复杂目标的一维成像、二维RCS成像以及精确RCS计算能力.最后,在x波段下利用该系统进行了二维RCS成像实验.实验结果表明,该成像测量系统能够高精度、高质量地实现设计使用功能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘本东	南京洛普股份有限公司微波暗室事业部	4	13	1.0	3.0
2	张宇桥		6	0	0.0	0.0
3	符礼		1	0	0.0	0.0
4	刘志忠		1	0	0.0	0.0