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摘要:
利用准确定值的工作标样,在X射线荧光光谱仪上建立校准曲线,编制无损检测分析程序,对钯含量在45.0%~99.9%之间的首饰钯合金进行钯含量的无损检测分析。相对标准偏差优于0.3%,与原子吸收法的测试结果进行比对,表明方法准确可行。
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Sn
Bi
Cu
内容分析
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文献信息
篇名 能量色散X射线荧光光谱法测定首饰钯合金中钯含量
来源期刊 上海计量测试 学科
关键词 能量色散X射线荧光光谱法 钯合金
年,卷(期) 2013,(4) 所属期刊栏目 学术论文 Academic Papers
研究方向 页码范围 20-22
页数 3页 分类号
字数 1450字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 黄国芳 4 9 2.0 3.0
2 金俊 2 7 2.0 2.0
3 许雅 2 7 2.0 2.0
4 李晨光 2 7 2.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
能量色散X射线荧光光谱法
钯合金
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
上海计量测试
双月刊
1673-2235
31-1424/TB
大16开
上海市宜山路716号
4-769
1973
chi
出版文献量(篇)
3176
总下载数(次)
7
总被引数(次)
5260
论文1v1指导