演化电路的故障自修复设计与实现

• 作者: 娄建安 李川涛 李阳 禇杰
• 来源期刊: 计算机工程
• 学科: 工学
• 关键词: 演化硬件 在片 自修复 虚拟可重构电路 染色体编码 SA故障
• 年，卷（期）: 2013,（9）
• 所属期刊栏目: 开发研究与工程应用
• 页码范围: 308-310,316
• 页数: 4页
• 分类号: TP331
• 字数: 3230字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2013.09.069

摘要

为进一步提高电子系统在恶劣环境下的生存能力，对采用虚拟可重构电路(VRC)技术的演化电路进行电路自修复研究。根据VRC技术，建立一个可用于数字电路演化的门级电路模型，设计二进制的染色体编码。给出实现电路自主修复的工作流程，探讨进行电路故障诊断和修复的途径。在直流无刷电机控制电路中模拟宇宙单粒子烧毁逻辑门产生常见的SA错误，使电机不能正常运转。通过在线演化方法，绕过错误单元使得电机恢复转动。实验结果证明，使用演化方法可以有效解决电路中的SA故障，提高电路的可靠性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	娄建安	军械工程学院电气工程系	32	131	6.0	9.0
2	李川涛	军械工程学院电气工程系	10	32	4.0	5.0
3	禇杰	军械工程学院静电与电磁防护研究所	3	32	3.0	3.0
4	李阳	军械工程学院电气工程系	7	17	3.0	4.0