片上 Fl as h测试接口的设计

• 作者: 宋明歆 朱学亮 杨阳
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: Flash 测试接口 DSP 复用
• 年，卷（期）: 2013,（12）
• 页码范围: 100-103
• 页数: 4页
• 分类号: TN402
• 语种: 中文

摘要

提出了一种DSP上嵌入式Flash存储器的测试接口设计。结合对Flash IP 接口分析以及测试的要求，实现了测试接口引脚复用设计和接口逻辑转换的设计，设计在减少测试引脚数量的同时准确并完整地实现了对片上Flash的测试，满足了设计的可测试性。通过NCsim仿真验证，设计达到了测试要求，并成功应用于一款32位定点DSP芯片中。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宋明歆		19	51	4.0	6.0
2	杨阳		10	49	4.0	7.0
3	朱学亮		2	5	2.0	2.0