篇名 | Angular dependence of multiple-bit upset response in static random access memories under heavy ion irradiation | ||
来源期刊 | 中国物理B(英文版) | 学科 | |
关键词 | single event effects effective LET method multiple-bit upset upset cross section | ||
年,卷(期) | 2013,(8) | 所属期刊栏目 | |
研究方向 | 页码范围 | 529-533 | |
页数 | 5页 | 分类号 | |
字数 | 语种 | 英文 | |
DOI | 10.1088/1674-1056/22/8/086102 |