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摘要:
观察到了光学基片和薄膜元器在准连续激光辐照下发生了预处理效应.在532 nm和355 nm激光辐照下,许多样品的弱吸收值呈现出一个相似的下降曲线(ADC);但在1064 nm激光辐照下没有此现象.为了解释和进一步理解该现象,合理假设该现象与辐射总能量密度有关,以此建立了一个唯象模型,并进行了一系列推算.推算结论指出:ADC的初始部分形状更多与具体发生的激光预处理机制有关,而尾部形状更多是由于高斯光分布所致;归一化后的ADC以及归一化后的上渐近线,将成为多个ADC曲线之间进行比较的天然度量衡.这些推论得到了实验数据的支持.
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文献信息
篇名 利用唯象模型解释和理解弱吸收下降曲线
来源期刊 强激光与粒子束 学科 物理学
关键词 光学薄膜 弱吸收 激光预处理 激光损伤阈值 弱吸收下降曲线
年,卷(期) 2013,(12) 所属期刊栏目 光学元件
研究方向 页码范围 3318-3324
页数 7页 分类号 O437
字数 5488字 语种 中文
DOI 10.3788/HPLPB20132512.3318
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 陈松林 23 92 6.0 7.0
2 马平 54 355 11.0 15.0
3 张哲 3 6 2.0 2.0
4 刘浩 5 9 2.0 2.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
光学薄膜
弱吸收
激光预处理
激光损伤阈值
弱吸收下降曲线
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
强激光与粒子束
月刊
1001-4322
51-1311/O4
大16开
四川绵阳919-805信箱
62-76
1989
chi
出版文献量(篇)
9833
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7
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61664
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