篇名 | Micro-track structure analysis for 100 Me V Si ions in CR-39 by using atomic force microscopy | ||
来源期刊 | 中国物理B(英文版) | 学科 | |
关键词 | micro-track structure bulk etch rate track etch rate track core size | ||
年,卷(期) | 2013,(11) | 所属期刊栏目 | |
研究方向 | 页码范围 | 436-439 | |
页数 | 4页 | 分类号 | |
字数 | 语种 | 英文 | |
DOI | 10.1088/1674-1056/22/11/116105 |