长散在核元件LINE1与细胞衰老

• 作者: 吴本俨(审校) 李英男 王昌正(综述)
• 来源期刊: 解放军医学院学报
• 学科: 医学
• 关键词: 长散在核元件1 衰老 逆转录转座 开放阅读框1 开放阅读框2
• 年，卷（期）: 2013,（12）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 1297-1300
• 页数: 4页
• 分类号: R34
• 字数: 4174字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2095-5227.2013.12.032

摘要

DNA损伤是细胞衰老的共同通路，在DNA损伤过程中，长散在核元件LINE1发挥着重要的作用。LINE1一方面通过逆转录转座使遗传信息能够在胞质和胞核之间传递，使生物得以不断进化，另一方面转座过程中造成的DNA损伤，随时间累积可引起基因改变，造成细胞衰老及各种遗传性疾病。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李英男	解放军总院南楼消化科	5	22	3.0	4.0
2	王昌正(综述)	解放军总院南楼消化科	1	0	0.0	0.0
3	吴本俨(审校)	解放军总院南楼消化科	2	1	1.0	1.0