Al2O3:Cr荧光屏Fen+束流面分布诊断

• 作者: 何铁 刘猛 安力 王新华 郑普 雷家荣
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 物理学
• 关键词: 荧光屏 Fen+束 束流面分布 诊断
• 年，卷（期）: 2013,（4）
• 所属期刊栏目: 粒子束技术
• 页码范围: 1013-1016
• 页数: 4页
• 分类号: O484.41
• 字数: 3047字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/HPLPB20132504.1013

摘要

为满足加速器束流诊断的特殊要求,对束流面分布诊断方法进行了研究,建立了一套基于荧光屏的离子束流面分布测量装置.采用Fen+(n=5～12)离子束流对测量装置进行了实验检验,结果表明,在几十至上百nA量级束流强度Fen+离子束的轰击下,面分布图像产生了饱和现象.进一步的实验结果表明,饱和现象是由荧光屏发光的光强过强造成的,采用特别研制的具有光强衰减和滤波功能的成像光路可以解决光强饱和的问题.在低束流条件下,面分布图像的灰度值与束流强度呈近似的线性关系,对这种线性关系产生的原因进行了具体的分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	雷家荣	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	32	135	7.0	10.0
2	王新华	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	27	76	5.0	7.0
3	郑普	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	25	52	4.0	6.0
4	何铁	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	14	29	3.0	4.0
5	安力	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	31	89	5.0	7.0
6	刘猛	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	8	8	2.0	2.0