微纳米三坐标测量机测头的研究进展

• 作者: 余惠娟 钱剑钊 黄帅 黄强先
• 来源期刊: 中国机械工程
• 关键词: 测头 微纳测量 微纳米坐标测量机 三维测量
• 年，卷（期）: 2013,（9）
• 所属期刊栏目: 学科发展
• 页码范围: 1264-1272
• 页数: 9页
• 分类号: TH71|TH89
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-132X.2013.09.026

摘要

根据微纳米三维测量的发展和研究现状,首先归纳了三维微纳米测头的技术要求并进行分类,然后对国内外微纳米CMM测头的研究进展进行了介绍和比较,指出了各种类型测头需要解决的问题.针对这些测头的局限性,探讨了正在研究的新型三维谐振触发方法和触发测头.最后对微纳米三坐标测头的研究与开发趋势进行了总结和展望.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄强先		46	319	9.0	15.0
2	余惠娟		5	48	4.0	5.0
3	钱剑钊		4	42	4.0	4.0
4	黄帅		7	87	5.0	7.0