篇名 | Analysis of the resistive switching behaviors of vanadium oxide thin film | ||
来源期刊 | 中国物理B(英文版) | 学科 | |
关键词 | VOx thin films reversible resistive switching resistive random access memory (RRAM) conductive atomic force microscope | ||
年,卷(期) | 2013,(3) | 所属期刊栏目 | |
研究方向 | 页码范围 | 437-441 | |
页数 | 5页 | 分类号 | |
字数 | 语种 | 英文 | |
DOI | 10.1088/1674-1056/22/3/037201 |