基于维纳过程的GaAs激光器可靠性评估

• 作者: 李全鹏
• 来源期刊: 科协论坛（下半月）
• 学科: 工学
• 关键词: 可靠性 退化数据 维纳过程 Bootstrap方法
• 年，卷（期）: 2013,（10）
• 所属期刊栏目: 工程技术与产业经济
• 页码范围: 26-27
• 页数: 2页
• 分类号: TN722
• 字数: 801字
• 语种: 中文

摘要

提出一种基于维纳过程的可靠性评估方法。根据产品的退化数据建立基于维纳过程的退化模型，进而采用Bootstrap方法来提高小样本情况下退化参数的估计精度，最后，对退化过程首达时的分析来获得产品的寿命分布。通过对GaAs激光器的退化数据进行可靠性评估和寿命预测，结果表明该方法相比现有方法更符合实际。