篇名 | Equivalent oxide thickness scaling of Al2O3/Ge metal-oxide-semiconductor capacitors with ozone post oxidation | ||
来源期刊 | 中国物理B(英文版) | 学科 | |
关键词 | Al2O3 gate dielectric ozone post oxidation equivalent oxide thickness electrical properties | ||
年,卷(期) | 2013,(6) | 所属期刊栏目 | |
研究方向 | 页码范围 | 561-564 | |
页数 | 4页 | 分类号 | |
字数 | 语种 | 英文 | |
DOI | 10.1088/1674-1056/22/6/067701 |