探讨紫外成像测试仪在绝缘子带电检测中的应用

• 作者: 葛一帅 许杰 谢琳
• 来源期刊: 科协论坛（下半月）
• 学科: 工学
• 关键词: 紫外成像测试 电晕放电 绝缘子带电检测 红外检测 超声波探伤
• 年，卷（期）: 2013,（9）
• 页码范围: 96-97
• 页数: 2页
• 分类号: TM85
• 字数: 912字
• 语种: 中文

摘要

通过对紫外成像测试仪在绝缘子带电检测工作中的应用，介绍电晕产生机理、危害及紫外成像测试仪的测试原理，并通过与其他测试方法的比较得出紫外成像测试技术的特点，同时通过案例分析紫外测试的影响因素，对下阶段紫外检测工作开展提出建议。