运用精益六西格玛降低分立器件芯片测试设备的故障率

• 作者: 易华波
• 来源期刊: 电脑知识与技术：学术交流
• 学科: 经济
• 关键词: 精益六西格玛 故障率 流程 缺陷
• 年，卷（期）: 2013,（2X）
• 页码范围: 1522-1524
• 页数: 3页
• 分类号: F273.4

摘要

目的:为了提高芯片测试工序的测试产能,通过改进分立器件芯片测试工序的设备管理与流程,降低生产设备的故障率。方法:采用精益六西格玛,并通过其定义、测量、分析、改进、控制5个步骤研究,改进我公司分立器件芯片测试工序的设备管理与流程。结果:设备故障率由改进前的2.5%降低到1.4%。结论:精益六西格玛可减少设备管理与流程中存在的缺陷,降低分立器件生产设备的故障率,以便进一步提高芯片测试产能和设备管理水平。

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序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	易华波		2	3	1.0	1.0