CIVA软件仿真曝光次数对射线检测结果的影响

• 作者: 严宇 刘丽丽 杨建龙 魏鹏
• 来源期刊: 无损探伤
• 学科: 工学
• 关键词: CIVA仿真 射线检测 曝光次数 底片质量
• 年，卷（期）: 2014,（2）
• 所属期刊栏目: 研究与应用
• 页码范围: 19-21
• 页数: 3页
• 分类号: TG115.28
• 字数: 1871字
• 语种: 中文

摘要

针对某核电项目规格为φ273mm×25.4mm的核1级反应堆压力容器安注管和安全端连接焊缝进行射线检验,由于曝光次数不同导致检测结果的评判截然不同,本文采用CIVA仿真平台对该焊缝的射线检测过程建模仿真,研究曝光次数对射线检测结果的影响,提出最优化曝光次数为6次.同时,也发现曝光时间对底片的黑度有影响,随着曝光时间的增加,底片黑度逐渐增大.将CIVA仿真平台应用在核电设备射线检测中,对优化射线检测工艺,有着非常重要的意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	严宇		5	16	2.0	4.0
2	刘丽丽		12	63	4.0	7.0
3	杨建龙		2	9	2.0	2.0
4	魏鹏		3	5	2.0	2.0