样品厚度对X-射线荧光分析结果的影响

• 作者: 曹年凤
• 来源期刊: 世界有色金属
• 学科: 化学
• 关键词: x-射线 地质样
• 年，卷（期）: 2019,（10）
• 所属期刊栏目: 化学化工
• 页码范围: 149-150
• 页数: 2页
• 分类号: O657.31
• 字数: 2384字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-5065.2019.10.088

摘要

利用X-射线荧光光谱仪(XRF)结合windows CE 6.0的Innov-x专用分析软件快速对钨矿石中钨的含量进行测定.对同一批样品采用XRF专用杯膜进行快速测定,并讨论样品厚度对钨检测结果的影响.实验表明,当对WO3在1.5％ 以下的样品测定钨结果的相对标准偏差(RSD,n=3)在0.003％～0.046％ 之间.通过钨矿石化学分析方法论证测定值均在误差范围内.通过对多个样品的分析比对,实验方法的分析结果与常规化学测定值基本一致,符合地质样分析规范要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曹年凤		2	0	0.0	0.0