论文降重
免费查重- 钛学术文献服务平台 \
- 学术期刊 \
- 工业技术期刊 \
- 一般工业技术期刊 \
- 先进制造进展(英文版)期刊 \
null
Integrated color defect detection method for polysilicon wafers using machine vision
基本信息来源于合作网站，原文需代理用户跳转至来源网站获取
摘要：
推荐文章
期刊_丙丁烷TDLAS测量系统的吸收峰自动检测
带间级联激光器
调谐半导体激光吸收光谱
雾剂检漏 中红外吸收峰 洛伦兹光谱线型
不同盐度、温度及光照对漂浮浒苔生理生态的影响
浒苔
盐度
温度
光照
生理生态
期刊_联合空间信息的改进低秩稀疏矩阵分解的高光谱异常目标检测
高光谱图像
异常目标检测 低秩稀疏矩阵分解 稀疏矩阵 残差矩阵
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数
(/次)
(/年)
文献信息
| 篇名 | Integrated color defect detection method for polysilicon wafers using machine vision | ||
| 来源期刊 | 先进制造进展（英文版） | 学科 | |
| 关键词 | Polysilicon wafers Color defect detection Machine vision Fuzzy color clustering Region growing method | ||
| 年，卷（期） | 2014,（4） | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 318-326 | |
| 页数 | 9页 | 分类号 | |
| 字数 | 语种 | 中文 | |
| DOI | 10.1007/s40436-014-0095-9 | ||
五维指标
引文网络
引文网络
二级参考文献 (26)
共引文献 (2)
参考文献 (18)
节点文献
引证文献 (0)
同被引文献 (0)
二级引证文献 (0)
2000(1)
- 参考文献（1）
- 二级参考文献（0）
2003(2)
- 参考文献（2）
- 二级参考文献（0）
2004(1)
- 参考文献（1）
- 二级参考文献（0）
2007(1)
- 参考文献（1）
- 二级参考文献（0）
2008(1)
- 参考文献（0）
- 二级参考文献（1）
2009(3)
- 参考文献（1）
- 二级参考文献（2）
2011(1)
- 参考文献（1）
- 二级参考文献（0）
2012(4)
- 参考文献（3）
- 二级参考文献（1）
2013(2)
- 参考文献（0）
- 二级参考文献（2）
2014(5)
- 参考文献（0）
- 二级参考文献（5）
2015(4)
- 参考文献（2）
- 二级参考文献（2）
2016(6)
- 参考文献（1）
- 二级参考文献（5）
2017(5)
- 参考文献（2）
- 二级参考文献（3）
2018(5)
- 参考文献（1）
- 二级参考文献（4）
2019(3)
- 参考文献（2）
- 二级参考文献（1）
2014(5)
- 参考文献(0)
- 二级参考文献(5)
- 引证文献(0)
- 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
Polysilicon wafers
Color defect detection
Machine vision
Fuzzy color clustering
Region growing method
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
先进制造进展(英文版)
主办单位：
上海大学
出版周期：
季刊
ISSN：
2095-3127
CN：
31-2069/TB
开本：
大16开
出版地：
上海市
邮发代号：
创刊时间：
1997
语种：
eng
出版文献量（篇）
267
总下载数（次）
0
期刊文献
相关文献
推荐文献
