基于皮尔逊相关系数法的水树枝与超低频介损的相关性研究

• 作者: 冯翔 夏荣 杨帆 金志辉 阮羚 陈俊武 陈昱龙
• 来源期刊: 高压电器
• 学科: 工学
• 关键词: 皮尔逊相关系数 显著性水平 水树枝 介损
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 所属期刊栏目: 研究与分析
• 页码范围: 21-25,31
• 页数: 6页
• 分类号: TM247
• 语种: 中文

摘要

水树枝是交联电缆的主要缺陷,相关研究表明,超低频介质损耗因数与交联电缆水树劣化状态具有较强相关性.笔者通过使用皮尔逊相关系数法,对国际电气电子工程师协会IEEE P4002.9/D9-2010推荐的超低频电压下介损平均值、介损变化率与介损随时间的稳定性3个评价指标,与交联电缆绝缘内部水树枝的密度、长度进行了相关性分析,研究结果对于采用上述指标评估水树枝的生长特性具有较好的理论价值与指导作用.